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激光粒度儀測試法是新型粒徑測試方法，應用廣泛，測試速度快，測試范圍廣。激光粒度儀是根據顆粒能使激光產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以一束平行的激光在沒有阻礙的無限空間中將會照射到無限遠的地方，并且在傳播過程中很少有發散的現象。當光束遇到顆粒阻擋時，一部分光將發生散射現象。散射光的傳播方向將與主光榮的傳播方向形成一個夾角θ。散射理論和結果證明，散射角θ的大小與顆粒的大小有關，顆粒越大，產生的散射光的θ角就越小；顆粒越小， 產生的散射光的θ角就越大。

LT2200系列激光粒度儀加持了真理光學的偏振濾波技術，摒棄傳統的針孔和機械調整，實現高穩定激光偏振設置和空間濾波；真理光學的衍射愛里斑反常變化（ACAD)的補償修正技術的使用，使用戶無需選擇分析模式，即可在全粒徑范圍獲得可靠的粒度結果；LT2200系列粒度儀還采用了真理光學的高速全息信號處理技術，測量速度高達創紀錄的每秒20000次，確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒； LT2200系列粒度儀的粒徑范圍為0.02um-2200um, 適用于制藥，電池材料，地質，水文，化工和磨料等諸多行業的顆粒粒度分析。